PC片材之PET聚酯薄膜厚度測量方案

PET聚酯薄膜在當今微電子薄膜、光學薄膜、抗氧化薄膜、巨磁電阻薄膜、電聲薄膜、高溫超導薄膜等領域應用越來越廣泛。工業(yè)應用中的PET聚酯薄膜，其厚度是一個非常重要的參數(shù)，直接關系到該薄膜材料能否正常工作。如大規(guī)模集成電路的生產(chǎn)工藝中的各種薄膜，電路集成程度的不斷提高，薄膜厚度的任何微小變化，對集成電路的性能都會產(chǎn)生直接的影響。
除此之外，PET聚酯薄膜力學性能，透光性能，磁性能，熱導率，表面結(jié)構等都與厚度有著密切的聯(lián)系。
在人們對能精確測量薄膜厚度方法的迫切需求下，相應地，產(chǎn)生了許多測量薄膜厚度的方案。在日常要求不是很嚴格的條件一般采用游標卡尺一工具來測試PET薄膜的厚度；而在需要高精密度的情況下現(xiàn)在則采用光學方法，它相對于其它類方法具有快速、準確和不損傷薄膜等優(yōu)點。綜觀當前眾多流行的分類方式，按照測量方法所依據(jù)的光學原理進行分類zui具代表性，可分為干涉、衍射、透射、反射、偏振等。
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